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哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置試驗(yàn)方法
哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置試驗(yàn)方法
型    號(hào):KTR011
更新時(shí)間:2018-09-28
報(bào)    價(jià):

哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置試驗(yàn)方法
適用于聚氯乙烯電線電纜在高溫條件下的開裂試驗(yàn)前的卷繞。符合GB/T2951.31.9-2008、GB/T 2951.6-1997標(biāo)準(zhǔn)要求(電纜和光纜聚氯乙烯混合料試驗(yàn)方法)。

哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置試驗(yàn)方法產(chǎn)品概述:

哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置試驗(yàn)方法

KTR011抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置試驗(yàn)方法 

1、絕緣熱沖擊試驗(yàn) 
1.1取樣 
每個(gè)被試絕緣線芯應(yīng)取兩根適當(dāng)長(zhǎng)度的試樣,試樣應(yīng)取自兩處,間隔至少為1m。若有外護(hù)層的話,應(yīng)從絕緣上除去。 
1.2試樣制備 
試樣應(yīng)按下列三種方法中的一種進(jìn)行制備: 
a)對(duì)于外徑不超過12.5mm的絕緣線芯,每一試樣是一段絕緣線芯。 
b)對(duì)于外徑超過12.5mm,絕緣厚度不超過5.0mm的絕緣線芯和所有的扇形絕緣線芯,每個(gè)試樣應(yīng)取成絕緣窄條,其寬度至少是絕緣厚度的1.5倍,但不小于4mm。 
窄條應(yīng)沿絕緣線芯的軸線方向切取,如果是扇形絕緣線芯,應(yīng)在絕緣線芯的“背部”切取。 
c)對(duì)于外徑超過12.5mm,絕緣厚度超過5.0mm的絕緣線芯,每個(gè)試樣應(yīng)按b)規(guī)定切取窄條,然后窄條的外表面磨或削(避免過熱)到4.0~5.0mm厚,該厚度應(yīng)在窄條的較厚部分測(cè)得,窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。 
1.3試樣卷繞 
每個(gè)試樣應(yīng)在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形,并將兩端固定。 
試棒直徑和卷繞圈數(shù)規(guī)定如下: 
a)按1.2a)項(xiàng)制備的試樣、扁平電纜或軟線,表1規(guī)定了試棒的直徑和卷繞圈數(shù)。試棒直徑應(yīng)按其短軸尺寸選取,卷繞時(shí)使其短軸垂直于試棒。 
表1 
試樣外徑D/mm 試棒直徑/mm 卷繞圈數(shù) 
D≤2.5 5 6 
2.5<D≤4.5 9 6 
4.5<D≤6.5 13 6 
6.5<D≤9.5 19 4 
9.5<D≤12.5 40 2 
b)按1.2b)和1.2c)制備的試樣,表2規(guī)定了試棒的直徑和卷繞圈數(shù)。在這種情況下,試樣的內(nèi)表面應(yīng)與試棒接觸。 
表2 
試樣厚度δ/mm 試棒直徑/mm 卷繞圈數(shù) 
δ≤1 2 6 
1<δ≤2 4 6 
2<δ≤3 6 6 
3<δ≤4 8 4 
4<δ≤5 10 2 
上述表格中,試樣直徑或試樣厚度應(yīng)用游標(biāo)卡尺或其他合適的測(cè)量工具進(jìn)行測(cè)定。 
1.4加熱和檢查 
繞在試棒上的試樣應(yīng)放入預(yù)熱到有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定試驗(yàn)溫度的空氣烘箱中,如果電纜標(biāo)準(zhǔn)沒有規(guī)定,則預(yù)熱到(150±3)0C,試樣在規(guī)定溫度下保持1h。 
加熱結(jié)束后從烘箱中取出試樣并在試樣達(dá)到近似環(huán)境溫度后,檢查仍在試棒上的試樣。 
1.5試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定 
用正常視力或矯正后的視力而不用放大鏡進(jìn)行檢查時(shí),試樣應(yīng)裂紋。 

哈爾濱KTR011抗開裂卷繞試驗(yàn)裝置試驗(yàn)方法
2、護(hù)套熱沖擊試驗(yàn) 
2.1取樣 
每個(gè)被試護(hù)套應(yīng)取兩根適當(dāng)長(zhǎng)度的電纜試樣,試樣取自兩處,間隔至少1m。若有外護(hù)層應(yīng)除去。 
2.2試樣制備 
a)對(duì)于外徑不超過12.5mm的護(hù)套,每個(gè)試樣應(yīng)是一段電纜,但聚乙烯絕緣、聚乙烯護(hù)套電纜除外。 
b)對(duì)于外徑超過12.5mm,厚度不超過5.0mm的護(hù)套和聚乙烯絕緣電纜的護(hù)套,每個(gè)試樣應(yīng)是取自護(hù)套上的窄條,其寬度至少是護(hù)套厚度的1.5倍,但不小于4mm,窄條應(yīng)沿電纜的軸線方向切取。 
c)對(duì)于外徑超過12.5mm,厚度超過5.0mm的護(hù)套,每個(gè)試樣應(yīng)是按b)項(xiàng)規(guī)定切取的窄條,然后在窄條的外表面磨或削(避免過熱)到(4.0~5.0mm)厚,該厚度應(yīng)在窄條的較厚部分測(cè)得,窄條的寬度至少是厚度的1.5倍。 
d)對(duì)于扁電纜,如果電纜的寬度不超過12.5mm,每個(gè)試樣應(yīng)是一段完整的電纜。如果電纜寬度超過12.5mm,則每個(gè)試樣應(yīng)是按b)規(guī)定從護(hù)套上切取的窄條。 
2.3試樣卷繞 
每個(gè)試樣應(yīng)在環(huán)境溫度下緊密地在試棒上繞成螺旋形,將兩端固定。 
按2.2a)項(xiàng)制備的試樣,及2.2d)項(xiàng)寬度不超過12.5mm的扁平電纜,試棒的直徑和卷繞圈數(shù)應(yīng)按照1.3a)項(xiàng)規(guī)定。試棒直徑應(yīng)按電纜的短軸尺寸選取,卷繞時(shí)應(yīng)使其短軸垂直于試棒。 
按2.2a)和2.2c)項(xiàng)制備的試樣,及2.2d)項(xiàng)寬度超過12.5mm的扁平電纜,試棒直徑和卷繞圈數(shù)應(yīng)按照1.3b)項(xiàng)規(guī)定。在這種情況下,試樣的內(nèi)表面應(yīng)與試棒接觸。 
2.4加熱和檢查 
按1.4的規(guī)定 
2.5試驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定 
按1.5的規(guī)定

用正常視力或矯正后的視力而不用放大鏡進(jìn)行檢查時(shí),試樣應(yīng)裂紋 每個(gè)被試護(hù)套應(yīng)取兩根適當(dāng)長(zhǎng)度的電纜試樣,試樣取自兩處,間隔至少1m;若有外護(hù)層應(yīng)除去 對(duì)于外徑不超過12.5mm的護(hù)套,每個(gè)試樣應(yīng)是一段電纜,但聚乙烯絕緣、聚乙烯護(hù)套電纜除外

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